X射线衍射仪（XRD）

一、工作原理及用途

X射线衍射是利用X射线在晶体物质中衍射效应进行物质结构分析的技术。试样中的物质会被激发而产生二次荧光X射线，晶体的晶面反射遵循布拉格定律，通过测定衍射角位置、谱线积分强度、谱线强度随角度的变化关系进行物质分析。

该设备主要用于材料的晶型、晶格参数、点阵特性等方面的定性和定量分析。

二、性能及特点

1、型号规格：荷兰帕纳科公司X'pert powder型多功能粉末X射线衍射仪。

2、性能特点：采用第二代陶瓷X光管专利技术，功率3kW，测角仪重现性0.0001度。通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位，无需校准光路，分析速度快，可应用于各种粉末状样品的物相分析。