半导体粉末电阻率测试仪器

一、工作原理及用途

半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针测量原理测试粉末电阻率的仪器，将位于同一直线上的4个探针置于表面平整的样品上，并施加直流电流于外侧的两个探针上，然后在中间两个探针上用高精度数字电压表测量电压，即可以通过公式计算得到检测位置的电导率。

此仪器能够测量任何半导体粉末材料的电阻率，对材料材质没有要求，只要求样品测试值在仪器的测量范围内。

二、仪器性能及特点

1、型号规格：ST2722型半导体粉末电阻率测试仪

2、性能特点：

探针间距直线二针分布，间距10mm；

探针机械游移率±0.5%；

压力0～1000g可调，额定压力约500g。

可测片料、块料或棒料等。